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半导体测试方案 强攻IOT 新应用

朝正科技有限公司 2019-09-25 1001

快速满足复杂的SoC测试应用需求

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统,可提供高达2048个I/O通道、数位通道速率(data rate)最高可达1Gbps、最高512个并行测试的能力及512M Word测试资料记忆体深度,以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。应用范围包含微控制器(MCU)、数位音讯、数位电视、机顶盒、数位信号处理器(DSP)、网路处理器(Network Processor)、现场可程式逻辑门阵列(FPGA)及消费性电子IC应用市场等测试方案。


HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号解决方案,为Chroma 3680的选购模组,拥有可同时输出的8个差动源模组(AWG)和同时接收的8个差动测量模组(DGT),且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps的取样频率,具有高规格、低成本和多功能等优势,适用于标准的基频、视讯、音讯、图形、STB以及DTV等广泛的混合讯号测试应用。


搭配于3680上所开发的CRISPro软体套件,让使用者可以用图形化介面(GUI)或程式语言做测试程式的开发,加上支援可同时测试(Concurrent Testing)的功能,以降低测试程式的时间,加快产品的量产速度。


经济且弹性高之完整ATE测试功能

Chroma 3380 为一经济且弹性极高之ATE自动测试系统,最高可以提供1,280通道,速率最高可达100Mbps、并提供1024个并行测试能力。不仅具有多样性模拟(analog)信号的仪器板卡可供选择,更具备各种常见ATE系统之转换软件与硬件模块,让转移平台快速方便,降低整体测试成本 (COT)。此外,3380可以完整整合射频测试仪MP5806 . 同时支持Direct Mount和Cable Mount 的测试方案,拥有4/8 RF Port及120MHz 频宽,涵盖6GHz范围内的无线测试规范,应


Chroma 33010 PXIe 架构之自动测试系统(ATE),具完整ATE功能,对于价格更敏感的客户,提供符合未来PXI 测试方案发展应用之趋势及需求,以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势,尤其在 IoT 及车用感测IC测试上,PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上具有优势。应用范围包含微控制器、微机电(MEMS)感测器、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。


全温度控制范围,确保IC最终品质

Chroma 3110S 双用型单测头的 Pick & Place 测试分类机,支援各种不同类型封装晶片,如BGA、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip与TSOP等,并可支援至120mm封装尺寸. 内建全温度范围控制模组(Full range Thermal Control Unit),可提供高功率主动式温控系统(High Power Cooling ATC),温度范围-40°C ~ 150°C ±3°C选配高规格温控器可达-55°C ~ 175°C ±3°C的温控能力,并支援压测力量220K


2019 SEMICON China (3月20-22日),致茂电子将于上海新国际博览中心(SNIEC)(摊位号: 3171)展出崭新的半导体测试解决方案,我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势,期待在此年度盛会中与您见面。